Protótipo laboratorial de um microscópio de varrimento tusando um sensor linear: avaliação da sua resposta axial

Abstract

O objectivo do presente trabalho consistiu em criar um sistema laboratorial que envolva diferentes áreas como a electrónica, óptica, processamento de sinal e software para tornar possível o uso de um sensor linear como detector num microscópio óptico de varrimento (SOM - Scanning Optical Microscope) avaliando a sua confocalidade. Foi construído um protótipo de baixo custo de um sistema SOM com configuração em reflexão epi-iluminada e a utilização do varrimento da plataforma do objecto para minimizar as aberrações causadas pelo uso de componentes ópticos de baixo custo. Foram usados três circuitos ópticos diferentes e escolheu-se o melhor avaliando a resolução axial e lateral sem o uso de pinholes. A iluminação em linha foi obtida pelo uso de uma lente óptica anamórfica de baixo custo. O sistema óptico, o sistema de aquisição (com base no microcontrolador PIC e no sensor CMOS LIS1024 integrados num circuito impresso), o sistema de visualização e respectivo software estão também aqui descritos. Os resultados inicialmente obtidos foram adquiridos usando como objecto um espelho plano montado numa plataforma de transacção. Foram utilizadas rotinas em Matlab para avaliar a resolução axial e a confocalidade do sistema.