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Name
Soares, J. C.
 
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Publications
(Todas)



Refinado por:
Assunto:  Silicon
Assunto:  Rutherford back-scattering spectrometry
Assunto:  X-ray diffraction

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Data de publicaçãoTítuloAutor(es)TipoAcesso
11998Physical and mechanical properties of Ti1 - xSixN filmsVaz, F. ; Rebouta, L. ; Ramos, S. ; Cavaleiro, A. ; Silva, M. F. da ; Soares, J. C. articleopenAccess