Percorrer por assunto Constant photocurrent method

Mostrar resultados 1-1 de 1.
Data de publicaçãoTítuloAutor(es)TipoAcesso
2007Positron annihilation and constant photocurrent method measurements on a-Si:H films: A comparative approach to defect identificationGordo, P. M. ; Marques, M. F. Ferreira ; Gil, C. Lopes ; Lima, A. P. de ; Lavareda, G. ; Carvalho, C. Nunes de ; Amaral, A. ; Kajcsos, Zs. articleopenAccess